کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5421719 1507885 2016 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electronic characterization of a single dangling bond on n- and p-type Si(001)-(2 × 1):H
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Electronic characterization of a single dangling bond on n- and p-type Si(001)-(2 × 1):H
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 645, March 2016, Pages 88-92
نویسندگان
, , , , ,