کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5422561 | 1507921 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Determination of film thicknesses through the breakup of H2+ ions
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Absolute depth profiling of thin films by Coulomb explosion of H2+ ions is proposed. ⺠The Coulomb broadening of the energy-loss straggling of the fragments is measured. ⺠Coulomb broadening and dwell time of the fragments are correlated in a depth scale. ⺠Transmission electron microscopy corroborates the proposed technique.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 608, February 2013, Pages 292-296
Journal: Surface Science - Volume 608, February 2013, Pages 292-296
نویسندگان
S.M. Shubeita, R.C. Fadanelli, J.F. Dias, P.L. Grande,