کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5422667 | 1507923 | 2012 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of 1T-TiSe2 surface by means of STM and XPD experiments and model calculations
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Surface structure 1T-TiSe2 has been characterized by means of STM and XPD methods. ⺠The TiSe2 structure was reconstructed from photoelectron holograms both Ti and Se. ⺠The 1T-TiSe2 surface structure does have 1T-polytype with distortion. ⺠The Van-der-Waals gap between two topmost slabs Se-Ti-Se is expanded. ⺠Lattice parameter a0 of TiSe2 structure is expanded up to 3.83 Ã
.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 606, Issues 23â24, December 2012, Pages 1760-1770
Journal: Surface Science - Volume 606, Issues 23â24, December 2012, Pages 1760-1770
نویسندگان
M.V. Kuznetsov, I.I. Ogorodnikov, A.S. Vorokh, A.S. Rasinkin, A.N. Titov,