کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5422912 1507943 2011 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
STM and XPS investigations of bismuth islands on HOPG
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
STM and XPS investigations of bismuth islands on HOPG
چکیده انگلیسی
► Metallic character of thin Bi films on graphite was confirmed. ► Layer-pairing was observed. ► Deviations from the bulk atomic arrangement was identified. ► Presence of the second fast growth direction was indicated. ► Atomic resolution images were acquired.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 7–8, April 2011, Pages 659-667
نویسندگان
, , , , , ,