کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5422912 | 1507943 | 2011 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
STM and XPS investigations of bismuth islands on HOPG
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Metallic character of thin Bi films on graphite was confirmed. ⺠Layer-pairing was observed. ⺠Deviations from the bulk atomic arrangement was identified. ⺠Presence of the second fast growth direction was indicated. ⺠Atomic resolution images were acquired.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 7â8, April 2011, Pages 659-667
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 7â8, April 2011, Pages 659-667
نویسندگان
P.J. Kowalczyk, O. Mahapatra, D.N. McCarthy, W. Kozlowski, Z. Klusek, S.A. Brown,