کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5422938 | 1507943 | 2011 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Measuring grain boundary segregation using Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy: Further developments
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Measuring grain boundary segregation using Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy: Further developments Measuring grain boundary segregation using Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy: Further developments](/preview/png/5422938.png)
چکیده انگلیسی
⺠WD X-ray Spectroscopy can be used to quantify grain boundary segregation in a SEM. ⺠The technique can be used on ex-situ fractured samples. ⺠The precision and limit of detection is a couple of ng.cm-2 or percents of a monolayer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 7â8, April 2011, Pages 848-858
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 7â8, April 2011, Pages 848-858
نویسندگان
P. Nowakowski, F. Christien, M. Allart, Y. Borjon-Piron, R. Le Gall,