کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5423907 | 1395806 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reflection characterization of anisotropic ultrathin dielectric films on absorbing isotropic substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The reflection of linearly polarized light from an ultrathin anisotropic dielectric film on isotropic absorbing substrate is investigated analytically in the long-wavelength limit. All analytical results are correlated with the numerical solution of the anisotropic reflection problem on the basis of rigorous electromagnetic theory. Simple analytical approach developed in this work not only gives a physical insight into the reflection problem but also provides a way of estimating the necessary experimental accuracy for optical diagnostics by reflection characteristics. It is shown that obtained expressions are of immediate interest for determining the parameters of anisotropic surface layers. Innovative possibilities for optical diagnostics of anisotropic properties of ultrathin dielectric layers upon absorbing materials are discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 603, Issue 21, 1 November 2009, Pages 3227-3233
Journal: Surface Science - Volume 603, Issue 21, 1 November 2009, Pages 3227-3233
نویسندگان
Peep Adamson,