کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5425558 | 1395860 | 2007 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Grazing incidence X-ray studies of ultra-thin Lumogen films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Lumogen® Yellow S0790 films have been produced on silicon wafer substrates via physical vapour deposition (PVD) and spin-coating (SC) methods. These coatings were characterised with X-ray reflectometry (XRR) and grazing incidence X-ray diffraction (GIXD) techniques. The results show that ultra-thin (less than 12Â nm) PVD films coat amorphously, with crystallinity becoming increasingly apparent with increasing film thickness. In contrast, measurements of ultra-thin (less than â¼2Â nm) spin-coated films reveal a second, apparently stable crystalline structure.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 601, Issue 24, 15 December 2007, Pages 5744-5749
Journal: Surface Science - Volume 601, Issue 24, 15 December 2007, Pages 5744-5749
نویسندگان
S.J. Keough, T.L. Hanley, A.B. Wedding, J.S. Quinton,