کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5447705 | 1511763 | 2017 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reduction of residual stress in AlN thin films synthesized by magnetron sputtering technique
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 200, 1 October 2017, Pages 78-84
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 200, 1 October 2017, Pages 78-84
نویسندگان
Padmalochan Panda, R. Ramaseshan, N. Ravi, G. Mangamma, Feby Jose, S. Dash, K. Suzuki, H. Suematsu,