کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5447987 1511766 2017 11 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Broad range refractive index engineering of SixNy and SiOxNy thin films and exploring their potential applications in crystalline silicon solar cells
ترجمه فارسی عنوان
مهندسی شاخصهای شکست طیف گسترده ای از فیلم های نازک شش نان و سیوکس نی و بررسی کاربرد بالقوه آنها در سلول های خورشیدی سیلیکون بلوری
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش مقاله
مهندسی شاخصهای شکست طیف گسترده ای از فیلم های نازک شش نان و سیوکس نی و بررسی کاربرد بالقوه آنها در سلول های خورشیدی سیلیکون بلوری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 197, 15 August 2017, Pages 181-191
نویسندگان
, ,