کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545016 | 871802 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Pitfalls for CDM calibration procedures
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A product qualification gave very different results for CDM testing between three labs. This paper describes the investigation into the root cause of these differences. The most relevant issues are the measurement bandwidth and the quality of the calibration modules. An improved procedure is proposed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 53, Issue 2, February 2013, Pages 190–195
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 53, Issue 2, February 2013, Pages 190–195
نویسندگان
T. Smedes, M. Polewski, A. van IJzerloo, J.L. Lefebvre, M. Dekker,