کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545021 | 871802 | 2013 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Building-up of system level ESD modeling: Impact of a decoupling capacitance on ESD propagation
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Résumé We present a methodology for precise measurements and simulations of ESD system level stress applied to a simple printed circuit board. The impact of an external decoupling capacitance on the ESD propagation paths into an Integrated Circuit (IC) is demonstrated. Resulting current and voltage waveforms are analyzed to highlight the interactions between IC and components (including package, PCB and ESD protections).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 53, Issue 2, February 2013, Pages 221–228
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 53, Issue 2, February 2013, Pages 221–228
نویسندگان
N. Monnereau, F. Caignet, D. Trémouilles, N. Nolhier, M. Bafleur,