کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5451473 | 1398537 | 2017 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Achieve atomic resolution in in situ S/TEM experiments to examine complex interface structures in nanomaterials
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
شیمی مواد
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Achieve atomic resolution in in situ S/TEM experiments to examine complex interface structures in nanomaterials Achieve atomic resolution in in situ S/TEM experiments to examine complex interface structures in nanomaterials](/preview/png/5451473.png)
چکیده انگلیسی
Progress in recent research is briefly reviewed to highlight the potential when using latest S/TEM methodology optimized for atomic scale investigations and how this can be extended to in situ studies of interfacial effects, followed by comments on how to achieve and maintain highest possible resolution & sensitivity when keeping the effect of electron beam under control during these atomic-scale in situ experiments.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Current Opinion in Solid State and Materials Science - Volume 21, Issue 2, April 2017, Pages 77-91
Journal: Current Opinion in Solid State and Materials Science - Volume 21, Issue 2, April 2017, Pages 77-91
نویسندگان
Joerg R. Jinschek,