کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5451480 1398538 2017 18 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Informatics and data science in materials microscopy
ترجمه فارسی عنوان
علوم انسانی و علوم داده ها در میکروسکوپ مواد
ترجمه چکیده
وسعت، پیچیدگی و حجم اطلاعات تولید شده توسط مشخصه های مواد با استفاده از اشکال مختلف میکروسکوپ قابل ملاحظه ای گسترش یافته است. همراه با افزایش قدرت محاسبات، این امر موجب افزایش استفاده از تکنیک های اطلاعاتی و علوم داده به داده های میکروسکوپ مواد شده است، هر دو به منظور بهبود کیفیت داده ها و بهبود اطلاعات مواد استخراج شده از داده ها. این بررسی پیشرفت های اخیر در علم داده ها را در مورد میکروسکوپ مواد، از جمله مشکلات مانند انهدام، راندگی و تصحیح اعوجاج، مخلوط کردن طیفی و استفاده از آزمایش های شبیه سازی شده برای به دست آوردن اطلاعات در مورد مواد از داده های میکروسکوپ، را پوشش می دهد. تکنیک های پوشش داده شده عبارتند از روش های مبتنی بر پچ غیر محلی، تجزیه و تحلیل جزء، خوشه بندی، بهینه سازی، و سنجش فشرده. مثالها نشان می دهد که نیاز به ترکیب چندین روش اطلاع رسانی برای حل مسائل و نشان دادن پیشرفت های اخیر در میکروسکوپ های مواد ساخته شده توسط فناوری اطلاعات است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد شیمی مواد
چکیده انگلیسی
The breadth, complexity, and volume of data generated by materials characterization using various forms of microscopy has expanded significantly. Combined with increases in computing power, this has led to increased application of techniques from informatics and data science to materials microscopy data, both to improve the data quality and improve the materials information extracted from the data. This review covers recent advances in data science applied to materials microscopy, including problems such as denoising, drift and distortion correction, spectral unmixing, and the use of simulated experiments to derive information about materials from microscopy data. Techniques covered include non-local patch-based methods, component analysis, clustering, optimization, and compressed sensing. Examples illustrate the need to combine several informatics approaches to solve problems and showcase recent advances in materials microscopy made possible by informatics.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Current Opinion in Solid State and Materials Science - Volume 21, Issue 3, June 2017, Pages 141-158
نویسندگان
,