کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545728 | 871848 | 2008 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Key reliability concerns with lead-free connectors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This paper presents the key reliability issues of lead-free connectors. The paper first discusses electrical contact resistance of lead-free and lead-based solder-dipped contacts under various aging conditions. Then, the fretting corrosion of lead-free contacts is discussed. Finally, the reliability due to tin whiskers induced by mating pressure between connector contact elements is presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issue 10, October 2008, Pages 1613–1627
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issue 10, October 2008, Pages 1613–1627
نویسندگان
Tadahiro Shibutani, Ji Wu, Qiang Yu, Michael Pecht,