| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 545728 | 871848 | 2008 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Key reliability concerns with lead-free connectors
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی کامپیوتر
													سخت افزارها و معماری
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												چکیده انگلیسی
												This paper presents the key reliability issues of lead-free connectors. The paper first discusses electrical contact resistance of lead-free and lead-based solder-dipped contacts under various aging conditions. Then, the fretting corrosion of lead-free contacts is discussed. Finally, the reliability due to tin whiskers induced by mating pressure between connector contact elements is presented.
ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issue 10, October 2008, Pages 1613–1627
											Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issue 10, October 2008, Pages 1613–1627
نویسندگان
												Tadahiro Shibutani, Ji Wu, Qiang Yu, Michael Pecht,