کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
546003 1450559 2007 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Density functional theory of high-k dielectric gate stacks
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Density functional theory of high-k dielectric gate stacks
چکیده انگلیسی

Density functional theory is the method of choice in theoretical materials science. It has also proved to be a useful tool in device engineering, particularly at nanoscale and when novel materials are involved. In this paper, we briefly review recent theoretical results in the area of the advanced gate stack materials engineering.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 686–693
نویسندگان
, , , ,