کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
546198 | 1450561 | 2006 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reduction of the acquisition time for CMOS time-resolved photon emission by optimized IR detection
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We have achieved a greater than 2.5× improvement in the acquisition time figure of merit of an EmiScope™ Time Resolved photon Emission (TRE)-based probe system, by optimization of the detector dark-count rate, photon detection efficiency, and timing jitter. The effects of detector after-pulsing were reduced by use of an optimized hold-off time.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 46, Issues 9–11, September–November 2006, Pages 1504-1507
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 46, Issues 9–11, September–November 2006, Pages 1504-1507