Advances in Large-Scale Metrology - Review and future trends

زمینه مترولوژی بزرگ مقیاس برای چندین دهه مورد بررسی قرار گرفته است و نشان دهنده ترکیب و رقابت از موضوعاتی است که متنوع مانند زمین شناسی و کالیبراسیون آزمایشگاهی هستند. یک دلیل اصلی که مترولوژیکی مقیاس بزرگ همچنان مرز تحقیق را نشان می دهد این است که پیشرفت های تکنولوژیکی که در مقیاس مرسوم معرفی شده و تکمیل شده، چالش های اضافی را افزایش می دهند که با اندازه های غیر خطی افزایش می یابد. این به روش جدیدی برای بررسی کل فرایند اندازه گیری نیاز دارد، و در نتیجه کاربرد مفاهیم مانند فرآیند اندازه گیری مجازی و سیستم های فیزیکی سایبر را به همراه می آورد. این مقاله در مورد تکامل مستمر مترولوژی بزرگ مقیاس گزارش شده است.