کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5467205 1518618 2017 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ion Beam Induced Charge analysis of diamond diodes
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل شار یون یونی دیود الماس
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سطوح، پوشش‌ها و فیلم‌ها
چکیده انگلیسی
However, for high fluence scans of small areas covering the intrinsic gap, CCE maps are more uniform and compatible with a p-i-n structure, suggesting the occurrence of a “priming effect”, which saturates acceptor levels resulting in a decrease of the effective doping of the diamond substrate.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 404, 1 August 2017, Pages 259-263
نویسندگان
, , , , ,