Charge collection uniformity and irradiation effects of synthetic diamond detectors studied with a proton micro-beam

اثبات تست اصلی با یک زنجیره الکترونیک سریع انجام شده است تا نشان دهد که تجزیه و تحلیل شکل پالس فضایی حل شده با این سیستم می تواند انجام شود. میکرو پرتو همچنین اجازه مطالعه آسیب دائمی ناشی از تابش و قطبی شدن را می دهد که دو اثر تابش اهمیت برای توسعه الماس های مورد استفاده در برنامه های اسپکتروسکوپی است.