کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5467461 | 1398937 | 2017 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Application and development of ion-source technology for radiation-effects testing of electronics
ترجمه فارسی عنوان
کاربرد و توسعه فن آوری یون منبع برای آزمایش تابش الکترونیک
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
منابع یونی، اثرات تابش، شتاب دهنده ها، کوکتل های پرتو،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
چکیده انگلیسی
At the Accelerator Laboratory of the University of Jyväskylä (JYFL), radiation effects testing is currently performed using a K130 cyclotron and a 14Â GHz ECRIS at a beam energy of 9.3Â MeV/u. A new 18Â GHz ECRIS, pushing the limits of the normal conducting ECR technology is under development at JYFL. The performances of existing 18Â GHz ion sources have been compared, and based on this analysis, a 16.2Â MeV/u beam cocktail with 1999Â MeV 126Xe44+ being the most challenging component to has been chosen for development at JYFL. The properties of the suggested beam cocktail are introduced and discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 406, Part A, 1 September 2017, Pages 205-209
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 406, Part A, 1 September 2017, Pages 205-209
نویسندگان
T. Kalvas, A. Javanainen, H. Kettunen, H. Koivisto, O. Tarvainen, A. Virtanen,