کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
546999 | 871960 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A methodological approach for predictive reliability: Practical case studies
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The paper first describes challenges that engineers face in predicting the reliability of microelectronic assemblies. In addition, the constraints such as temperature, temperature cycle or moisture may interact with each other. So it is not feasible to solve the reliability problems without a methodological approach. The paper presents also case studies to illustrate a methodology combining experiments and simulations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issue 12, December 2012, Pages 3035–3042
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issue 12, December 2012, Pages 3035–3042
نویسندگان
H. Frémont, G. Duchamp, A. Gracia, F. Verdier,