کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
547230 | 871991 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low temperature CuCu thermo-compression bonding with temporary passivation of self-assembled monolayer and its bond strength enhancement
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Self-assembled monolayer (SAM) of alkane-thiol is formed on copper (Cu) thin layer coated on silicon (Si) wafer with the aim to protect the surface against excessive oxidation during storage in the room ambient. After 3 days of storage, the temporary SAM layer is desorbed with in situ anneal in inert ambient to uncover the clean Cu surface. A pair of wafers is bonded at 250 °C. Clear evidences of in-plane and out-of-plane Cu grain growth are observed resulting in a wiggling bonding interface. This gives rise to enhancement in shear strength in the bonded CuCu layer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issue 2, February 2012, Pages 321–324
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issue 2, February 2012, Pages 321–324
نویسندگان
C.S. Tan, D.F. Lim, X.F. Ang, J. Wei, K.C. Leong,