کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
547479 | 872008 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sub-threshold behavior of long channel undoped cylindrical surrounding-gate MOSFETs
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This paper reported the sub-threshold behavior of long channel undoped surrounding-gate (SRG) MOSFETs with respect to body radius. Based on a rigorous channel potential model presented in this work, the ideal room temperature subthreshold slope of 60 mV/dec can only be achieved when the silicon body radius is smaller than a critical value. With larger silicon body radius, SRG MOSFETs display a dual subthreshold slope of 60 mV/dec and 120 mV/dec. Based on the complex subthreshold characteristics, a new definition of threshold voltage together with an extraction method is adopted to investigate threshold voltage characteristics of undoped SRG MOSFETs in this paper.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issue 8, August 2009, Pages 897–903
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issue 8, August 2009, Pages 897–903
نویسندگان
Wei Bian, Jin He, Lining Zhang, Jian Zhang, Mansun Chan,