کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
547581 | 1450558 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sequential environmental stresses tests qualification for automotive components
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The purpose is to create a new qualification methodology for plastic encapsulated electronic components used in an automotive environment at high temperature. It is based on the acceleration of failure mechanisms like ball bond lift (due to intermetallic Au–Al thickness growth), by combination of environmental stresses. The delamination measurement was used as an indicator of potential assembly weaknesses. An optimized package sequential qualification test flow is proposed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issues 9–11, September–November 2007, Pages 1680–1684
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issues 9–11, September–November 2007, Pages 1680–1684
نویسندگان
M.A. Bahi, P. Lecuyer, H. Fremont, J-P. Landesman,