کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
547594 | 1450558 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Monitoring fading rate of ultracapacitors using online characterization during power cycling
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This paper deals with the ageing quantification of ultracapacitors in cycle-life tests. Typical micro- and mild-hybrid applications have been used to specify the test profiles in agreement with power requirements. Since ultracapacitors lifetime depends on the temperature, these profiles are adjusted to induce a given self-heating at the beginning of the power cycling tests. Ageing is evaluated thanks to the measurements of the electrical parameters changes. The good reproducibility of the characterization methods has allowed us to monitor the fading rate of ultracapacitors, from two manufacturers, with the proposed current profiles.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issues 9–11, September–November 2007, Pages 1751–1755
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issues 9–11, September–November 2007, Pages 1751–1755
نویسندگان
W. Lajnef, J.-M. Vinassa, O. Briat, H. El Brouji, E. Woirgard,