کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
547601 | 1450558 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Flexible active cycle stress testing of smart power switches
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Active cycle stress testing of smart power switches is conventionally performed either with current pulses of constant amplitude or with waveforms derived by switching inductive loads. A flexible test system is introduced that is capable of generating arbitrary current pulse shapes, which is verified experimentally on a typical smart power switch. It is demonstrated by a test run that pulses with different shape and amplitude but equal thermal stress derived from thermal simulation lead to comparable cycle life time.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issues 9–11, September–November 2007, Pages 1790–1794
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issues 9–11, September–November 2007, Pages 1790–1794
نویسندگان
Michael Glavanovics, Helmut Köck, Vladimir Košel, Tobias Smorodin,