کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
548451 | 872218 | 2007 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
RF ESD protection strategies: Codesign vs. low-C protection
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The present work is focussed on the trade-off between conventional RF ESD protection concepts optimized in terms of capacitive load and the frequently discussed RF ESD codesign idea with ESD protection skilfully integrated into RF circuit design. A narrow and a broadband RF test circuit were developed to put the benchmark on a firm basis. RF and ESD experiments are discussed, showing where the higher effort for the codesign approach starts to pay off.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issue 7, July 2007, Pages 1008–1015
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 47, Issue 7, July 2007, Pages 1008–1015
نویسندگان
W. Soldner, M. Streibl, U. Hodel, M. Tiebout, H. Gossner, D. Schmitt-Landsiedel, J.H. Chun, C. Ito, R.W. Dutton,