کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5488958 | 1399591 | 2017 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigation of ultrathin Pt/ZrO2-Al2O3-ZrO2/TiN DRAM capacitors Schottky barrier height by internal photoemission spectroscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Investigation of ultrathin Pt/ZrO2-Al2O3-ZrO2/TiN DRAM capacitors Schottky barrier height by internal photoemission spectroscopy Investigation of ultrathin Pt/ZrO2-Al2O3-ZrO2/TiN DRAM capacitors Schottky barrier height by internal photoemission spectroscopy](/preview/png/5488958.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Current Applied Physics - Volume 17, Issue 2, February 2017, Pages 267-271
Journal: Current Applied Physics - Volume 17, Issue 2, February 2017, Pages 267-271
نویسندگان
Sang Yeon Lee, Jaewan Chang, Jaehyung Choi, Younsoo Kim, HanJin Lim, Hyeongtag Jeon, Hyungtak Seo,