کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
549275 | 872353 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Novel GaAs enhancement-mode/depletion-mode pHEMTs technology using high-k praseodymium oxide interlayer
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠A novel GaAs E/D-mode pHEMT technology was developed. ⺠The MIMS-gate insulator was high-k praseodymium oxide. ⺠This E-mode pHEMTs exhibit a gate VON of +1 V and a breakdown voltage of â5.6 V. ⺠These values were +7 V and â34 V for MIMS-gate D-mode pHEMTs, respectively. ⺠This high-k insulator in D-mode pHEMT can suppress the gate leakage current.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issue 1, January 2012, Pages 147-150
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issue 1, January 2012, Pages 147-150
نویسندگان
Chao-Hung Chen, Hsien-Chin Chiu, Chih-Wei Yang, Jeffrey S. Fu, Feng-Tso Chien,