| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 549453 | 872373 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A self-test and dynamics characterization circuit for MEMS electrostatic actuators
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This paper presents a high-bandwidth capacitance estimation and driving circuit especially tailored for its use with MEMS electrostatic actuators. The circuit can be integrated as a part of a system comprising an electrostatic actuator to provide self-testing and failure prediction capabilities and also as a simple and low-cost actuator dynamics characterization system capable of measuring both periodic and non-periodic movements.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 51, Issue 3, March 2011, Pages 602–609
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 51, Issue 3, March 2011, Pages 602–609
نویسندگان
Daniel Fernández, Jordi Madrenas, Jordi Cosp,