کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
618857 | 1455048 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Advances in thick and thin film analysis using interferometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
شیمی کلوئیدی و سطحی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The use of interferometry to measure transparent and semi-transparent films is becoming more and more important as understanding of the measurement becomes more widespread. Techniques for measurement of thick films of 1 μm or greater using interferometry have been available for some time but measurement of thin films using interferometry is a much newer technique, also the effect of films coatings on interferometry measurements in general is now becoming more widely understood. The measurement of thick and thin films using interferometry is discussed in this paper.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Wear - Volume 266, Issues 5–6, 15 March 2009, Pages 502–506
Journal: Wear - Volume 266, Issues 5–6, 15 March 2009, Pages 502–506
نویسندگان
M. Conroy,