کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6885829 | 1444580 | 2018 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
ZATPG: SAT-based test patterns generator with zero-aliasing in temporal compaction
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
شبکه های کامپیوتری و ارتباطات
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We demonstrate our method on MISR compactors based on LFSR and cellular automata, using the single stuck-at fault model. Our method is able to find a test with zero aliasing and complete fault coverage for smaller compactors than a conventional, unguided ATPG. Thus, the area overhead of the compactor can be reduced, while the complete fault coverage is preserved.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microprocessors and Microsystems - Volume 61, September 2018, Pages 43-57
Journal: Microprocessors and Microsystems - Volume 61, September 2018, Pages 43-57
نویسندگان
Robert Hülle, Petr FiÅ¡er, Jan Schmidt,