Keywords: Reversible logic; Offline testing; Fault models; Performance parameters; ATPG; DFT;
مقالات ISI (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: ATPG; Test don't cares; Satisfiability; Symbolic simulation; Test compression; Embedded cores;
Keywords: VLSI test; ATPG; n-Detect; Multiple-detect; Non-modeled defects; Fault propagation paths
Keywords: Missing control fault; Fault diagnosis; ATPG; Fault analysis table; Fault diagnosis table; Fault diagnosis tree
ZATPG: SAT-based test patterns generator with zero-aliasing in temporal compaction
Keywords: ATPG; Response compaction; Aliasing; Stuck-at fault; SAT; Zero-aliasing; LFSR; MISR;
Techniques for SAT-based constrained test pattern generation
Keywords: Testing; Implicit representation; SAT; ATPG; Constrained test
Low-power multi-core ATPG to target concurrency
Keywords: SoC testing; ATPG; Low-power test
Logic-level mapping of high-level faults
Keywords: Functional verification; Fault models; ATPG; Fault coverage;