کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6945607 | 1450517 | 2018 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Stability of low ohmic thick-film resistors under pulsed operation
ترجمه فارسی عنوان
پایداری مقاومتی مقاوم در برابر ضخامت پوسته اهمی تحت عملیات پالس
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
ترجمه چکیده
بارهای پالس تکراری برای نمونه های انتخاب شده مورد استفاده قرار گرفت. نتایج نشان می دهد که مقاومت در برابر مقاومت بسیار خوب پس از آزمایش با 0.1 میلیون پالس با دامنه 70٪ از مقادیر شدت میدان الکتریکی واقعی است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Repetitive pulse load was applied for selected samples. The results show that resistors exhibited very good stability after test with 0.1 million pulses with amplitude of 70% of critical electric field intensity values.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 84, May 2018, Pages 95-104
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 84, May 2018, Pages 95-104
نویسندگان
Arkadiusz DÄ
browski, Andrzej Dziedzic,