کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6945705 | 1450518 | 2018 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Development of a capacitive sensing technology for the measurement of perpendicularity in the narrow, deep slot-walls of micromolds
ترجمه فارسی عنوان
توسعه یک تکنولوژی حسگر خازنی برای اندازه گیری عمق در دیواره های باریک و عمیق میکرومولد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
دیوار شکاف عمیق باریک، تکنولوژی حسگر خازنی، مرکز اندازه گیری ترکیبی، تکنیک بازرسی اتوماتیک نوری،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
This paper presents a novel approach to narrow, deep slot-wall measurement in micromolds. A tabletop hybrid measurement-center combining micro spark erosion and automatic optical inspection technique (AOI) with Capacitive Sensing (CS) technology is developed for measuring the perpendicularity of slot-walls in the very narrow and deep slots of precision molds. A microprobe is machined in-situ using micro wire spark erosion while the AOI system acquires images to help fast position the completed microprobe precisely over the narrow slot to be measured. Capacitive sensing with a high-frequency, low-voltage electric signal is employed between the probe and slot-wall to precisely sense the perpendicularity of the wall. A four-step probe feed approach is utilized to improve measurement accuracy. The technical feasibility of capacitive sensing technology is experimentally confirmed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 83, April 2018, Pages 216-222
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 83, April 2018, Pages 216-222
نویسندگان
Shun-Tong Chen, Sheng-min Lin,