کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6945748 | 1450519 | 2018 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Thermal lifetime estimation method of IGBT module considering solder fatigue damage feedback loop
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 82, March 2018, Pages 51-61
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 82, March 2018, Pages 51-61
نویسندگان
Bing Gao, Fan Yang, Minyou Chen, Yigao Chen, Wei Lai, Chao Liu,