کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6945824 1450520 2018 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Lifetime of electret microphones by thermal degradation analysis via electroacoustic measurements
ترجمه فارسی عنوان
طول عمر میکروفون های الکتریکی با تجزیه و تحلیل تجزیه حرارت از طریق اندازه گیری الکترو شنوایی
کلمات کلیدی
میکروفن الکتریکی، قابلیت اطمینان، تخریب الکترو آکوستیک،
ترجمه چکیده
تجهیزات الکترونیکی اغلب با استفاده از میکروفون های ارزان قیمت برق. در این مقاله، یک آزمایش کامل تسریع شتاب در میکروفونهای الکتریکی تجاری با استفاده از تست محفظه حرارتی ارائه شده است. این آزمایش بر روی میکروفون های تحت مطالعه در سه درجه مختلف انجام شد. پس از هر پروب حرارتی، ویژگی های الکتریکی شنوایی هر مبدل برای به دست آوردن مدل تخریب مورد بررسی قرار گرفت. در ادبیات چنین آزمایش هایی از طریق اتهامات شارژ در مواد الکتریکی انجام شده است. مدلهای زندگی برای شکستهای تخریب یافته از آزمایشات بدست آمد و سپس یک مدل کامل دما، که می تواند عمر مفید میکروفن ها را در هر یک از این شرایط محاسبه کند.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
طول عمر میکروفون های الکتریکی با تجزیه و تحلیل تجزیه حرارت از طریق اندازه گیری الکترو شنوایی
چکیده انگلیسی
Electronic equipment frequently utilises low cost electret microphones. In this paper, a complete accelerated life-test on commercial electret microphones is presented using thermal chamber testing. The test was conducted on the microphones under study at three different temperatures. After each thermal probe, the electroacoustic characteristics of each transducer was analysed for obtaining the degradation model. In the literature such tests have been performed through charge losses on the electret materials. Life models were obtained for the degradation failures revealed from the tests and a complete temperature model was then developed, which can calculate the useful life of the microphones under any of these conditions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 81, February 2018, Pages 95-100
نویسندگان
, , ,