کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6945871 | 1450520 | 2018 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Controversial issues in negative bias temperature instability
ترجمه فارسی عنوان
مسائل بحث برانگیز در بی ثباتی دمای منفی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
In spite of 50Â years of history, there is still no consensus on the basic physics of Negative Bias Temperature Instability. Two competing models, Reaction-Diffusion and Defect-Centric, currently vie for dominance. The differences appear fundamental: one model holds that NBTI is a diffusion-limited process and the other holds that it is reaction-limited. Basic issues of disagreement are summarized and the main controversial aspects of each model are reviewed and contrasted.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 81, February 2018, Pages 244-251
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 81, February 2018, Pages 244-251
نویسندگان
James H. Stathis, Souvik Mahapatra, Tibor Grasser,