کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6946023 1450521 2018 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Empirical derivation of upper and lower bounds of NBTI aging for embedded cores
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Empirical derivation of upper and lower bounds of NBTI aging for embedded cores
چکیده انگلیسی
Results show that our method yields very good accuracy in predicting the frequency degradation of cores due to NBTI aging effect, and can be used with confidence when the netlist of the cores is not available.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 80, January 2018, Pages 294-305
نویسندگان
, , ,