کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946023 | 1450521 | 2018 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Empirical derivation of upper and lower bounds of NBTI aging for embedded cores
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Results show that our method yields very good accuracy in predicting the frequency degradation of cores due to NBTI aging effect, and can be used with confidence when the netlist of the cores is not available.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 80, January 2018, Pages 294-305
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 80, January 2018, Pages 294-305
نویسندگان
Yukai Chen, Enrico Macii, Massimo Poncino,