کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6946212 1450523 2017 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparative analysis of parameter extraction techniques for AlGaN/GaN HEMT on silicon/sapphire substrate
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Comparative analysis of parameter extraction techniques for AlGaN/GaN HEMT on silicon/sapphire substrate
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 78, November 2017, Pages 389-395
نویسندگان
, , ,