کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6946444 1450545 2015 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A novel analytical method for defect tolerance assessment
ترجمه فارسی عنوان
یک روش تحلیلی جدید برای ارزیابی تحمل نقص
کلمات کلیدی
تجزیه و تحلیل تحمل گسل، روش های تحلیلی، انتشار خطا، شبیه سازی خطای آنالوگ،
ترجمه چکیده
با توجه به کاهش تکنولوژی، تحمل تحمل نقص تبدیل به یک نگرانی عمده در طراحی مدارهای دیجیتال شده است. در این مقاله روش تحلیلی جدیدی ارائه می شود که تحمل نقص مدارهای منطقی را با استفاده از انتشار نقص احتمالی محاسبه می کند. روش پیشنهادی در مورد مدل تک نقص توضیح داده شده است، اما می تواند به آسانی برای اداره چندین گسل خطرات ادغام شود. این رویکرد، وابستگی های سیگنال را به دلیل فانتزی های سازگار مدیریت می کند، نتایج دقیق و انجام عملیات ساده را مدیریت می کند.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
یک روش تحلیلی جدید برای ارزیابی تحمل نقص
چکیده انگلیسی
Due to technology downscaling, defect tolerance analysis has become a major concern in the design of digital circuits. In this paper, we present a novel analytical method that calculates the defect tolerance of logic circuits using probabilistic defect propagation. The proposed method is explained in case of single defect model, but can be easily adapted to handle multiple fault scenarios. The approach manages signal dependencies due to reconvergent fanouts, providing accurate results and performing simple operations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015, Pages 1285-1289
نویسندگان
, , ,