کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946478 | 1450545 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
General linearized model use for High Power Reliability Assessment test results: Conditions, procedure and case study
ترجمه فارسی عنوان
استفاده از مدل خطی عمومی برای نتایج آزمون اعتبار سنجی قابلیت اطمینان بالا: شرایط، روش و مطالعه مورد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
This paper presents the main features of modeling, but it shows their implementation on a real HPRA test in Load Short Circuit (LSC) condition. Modeling allows result prediction at a temperature for which a test has not been performed, but it allows also a full explanation of the phenomena: for example, it enables to estimate activation energy of acceleration factor in the test, but also the failure mechanisms at the breakage origin. This paper highlights the necessary conditions for the tests so that interpretation may be complete and significant.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issues 9â10, AugustâSeptember 2015, Pages 1346-1350
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issues 9â10, AugustâSeptember 2015, Pages 1346-1350
نویسندگان
C. Bergès, Y. Weber, P. Soufflet,