کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946491 | 1450545 | 2015 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High-throughput and full automatic DBC-module screening tester for high power IGBT
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We developed a high-throughput screening tester for DBC-module of IGBT. The tester realizes a new screening test with current distribution in addition to a conventional switching test. It consists of a power circuit, a replaceable test head, sensor array module and digitizer with LabVIEW program. Therefore, all kinds of DBC-modules can be screened by switching the test head. The tester acquires magnetic field signals and displays GO/NOGO judgment automatically after digital calibration and signal processing in 10Â s. It is expected to be applied for screening in a production line and analysis in order to prevent the failure of power modules.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issues 9â10, AugustâSeptember 2015, Pages 1363-1368
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issues 9â10, AugustâSeptember 2015, Pages 1363-1368
نویسندگان
M. Tsukuda, H. Tomonaga, S. Okoda, R. Noda, K. Tashiro, I. Omura,