کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6946740 1450547 2014 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Empirical BEOL-TDDB evaluation based on I(t)-trace analysis
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Empirical BEOL-TDDB evaluation based on I(t)-trace analysis
چکیده انگلیسی
This empirical evaluation delivers a different view on the I(t)-trace shapes leading to better understanding of its contributions to the TDDB behavior.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9–10, September–October 2014, Pages 1671-1674
نویسندگان
, , , ,