کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946856 | 1450547 | 2014 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Eliminating infant mortality in metallized film capacitors by defect detection
ترجمه فارسی عنوان
از بین بردن مرگ و میر نوزادان در خازن های فیلم فلزی با تشخیص نقص
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
قابلیت اطمینان، مرگ و میر نوزادان، خازن های فیلم، فیزیک شکست،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
A PoF approach to mitigating infant mortality is proposed which includes (1) conducting reliability capability and product maturity analyses; (2) identifying defects through non-destructive analysis, if possible; and (3) developing electrical tests to screen out early failures. The non-destructive analysis approach was outlined using die attach in a power module as a test bed, while the electrical testing approach was outlined using film capacitors. More data is being gathered to validate that the electrical test provides an early differentiation of change in capacitance over time between good and defective capacitors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 1818-1822
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 1818-1822
نویسندگان
F.P. McCluskey, N.M. Li, E. Mengotti,