کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946893 | 1450547 | 2016 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Qualification procedure for moisture in embedded capacitors
ترجمه فارسی عنوان
روش مناسب برای رطوبت در خازن های تعبیه شده
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Embedding passives in PCB permits to gain in integration density while enhancing electromagnetic compatibility performances. The choice of the dielectric film is fundamental for large frequency band stability of embedded capacitances. However, these materials are prone to water absorption, which can lead to functional parameter degradations and additional stresses at the interfaces. This paper presents experimental capacitors embedded in FR-4, and finite element simulations of moisture absorption in various dielectric materials. Technological choices, as well as the qualification procedure, can be improved thanks to the simulation results.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 2013-2016
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 2013-2016
نویسندگان
Hélène Frémont, Jörg Kludt, Massar Wade, Kirsten Weide-Zaage, Isabelle Bord-Majek, Geneviève Duchamp,