کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6947089 | 1450550 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Through silicon in-circuit logic analysis for localizing logic pattern failures
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Laser timing probes are used to display waveforms at single points or frequencies mapped throughout a field of view in an effort to locate logic failures. By focusing just on the logic state itself, this paper describes an approach that quickly determines the logic timing patterns and uses this information to identify logic pattern mismatches on-the-fly at specific locations, such as cells in a scan chain. Various applications and case studies are presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2012, Pages 2043-2049
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 52, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2012, Pages 2043-2049
نویسندگان
M.R. Bruce, L.K. Ross, C. Scholz, L. Joshi, Vrajesh Dave, C.M. Chua,