کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6947513 | 1450551 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
An overview of the reliability prediction related aspects of high power IGBTs in wind power applications
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠This paper is an overview about the reliability prediction of high power IGBTs. ⺠The failure mechanisms of wire-bonded and press-pack IGBTs are reviewed. ⺠The most commonly used lifetime prediction models are reviewed. ⺠So far most of the reliability research was focused on wire-bonded IGBTs. ⺠More research is needed about the reliability prediction of press-pack IGBTs.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 51, Issues 9â11, SeptemberâNovember 2011, Pages 1903-1907
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 51, Issues 9â11, SeptemberâNovember 2011, Pages 1903-1907
نویسندگان
C. Busca, R. Teodorescu, F. Blaabjerg, S. Munk-Nielsen, L. Helle, T. Abeyasekera, P. Rodriguez,