کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6950026 | 1451382 | 2016 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhanced double patterning decomposition using lines encoding
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه الگوریتم دوگانه با استفاده از خطوط کدگذاری پیشرفته
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
الگوی دوگانه، تطبیق الگو، عکسبرداری، رمزگذاری موقعیت خط،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سیستم های اطلاعاتی
چکیده انگلیسی
Double patterning photolithography (DPL) is considered one of the best solutions used for enabling 32Â nm/22Â nm technology. In this paper, we propose a new technique for double patterning post decomposition conflict resolution. The algorithm is based on lines positions encoding followed by code pattern matching. Experimental results show that the usage of encoded patterns decreases the time needed for pattern matching and increases the matching accuracy. The overall manual problem solution time is reduced to about 1%.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electrical Systems and Information Technology - Volume 3, Issue 2, September 2016, Pages 210-216
Journal: Journal of Electrical Systems and Information Technology - Volume 3, Issue 2, September 2016, Pages 210-216
نویسندگان
Khaled M. Soradi, Nevin M. Darwish,