کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7121217 1461463 2018 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Threshold estimation for least-squares fitting in impedance spectroscopy
ترجمه فارسی عنوان
برآورد آستانه برای حداقل مربعات در طیف سنجی امپدانس
کلمات کلیدی
طیف سنج امپدانس، برآورد آستانه، تابع خطای کمترین مربع، شناسایی پارامتر،
ترجمه چکیده
برآورد مقادیر جزء مدار در برنامه های طیف سنجی امپدانس معمولا نیاز به کمینه کردن تابع هزینه کمترین مربع دارد. مستقل از روش به حداقل رساندن، یک مقدار آستانه باید به عنوان یک معیار متوقف برای روش بهینه سازی تکراری استفاده شود. در این مقاله برآوردگر جدیدی برای مقدار آستانه ای که در مسائل کمینه سازی کوچکترین مربع مورد استفاده قرار می گیرد، برای ارزیابی مقادیر جزء امپدانس مدار الکتریکی استفاده می شود. برآورد جدید، پیشرفت یک کار قبلی است که به طور کلی تر است، زیرا می تواند برای هر مقدار اندازه گیری متفاوت سیستم های مختلف اندازه گیری را در نظر بگیرد. برای نشان دادن سودمندی این روش جدید، مقایسه بین آستانه حاصل شده با عدم قطعیت ثابت و با عدم قطعیت های مختلف ارائه شده است. پاسخهای امپدانس شبیه سازی شده برای اعتبارسنجی روش استفاده می شود که با استفاده از نتایج اندازه گیری تایید می شود. اثرات درست انتخاب یک آستانه در اتصالات یک پاسخ امپدانس مدار به مجموعه ای از اندازه گیری ها با تحلیل خواص همگرا و عدم اطمینان مقادیر مولد برآورد شده ارائه شده است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی کنترل و سیستم های مهندسی
پیش نمایش مقاله
برآورد آستانه برای حداقل مربعات در طیف سنجی امپدانس
چکیده انگلیسی
The estimation of circuit component values in impedance spectroscopy applications usually requires the minimization of a least-squares cost function. Independently of the minimization method used, a threshold value should be used as a stopping criteria for the iterative minimization procedure. This paper presents a new estimator for the threshold value to be used in least-squares minimization problems applied to electrical circuit impedance component values estimation. The new estimator is an improvement of a previous work that is more general as it can take into account different measurement system uncertainties for each measured value. Comparison between the threshold obtained with constant uncertainties and with varying uncertainties is presented to show the usefulness of this new method. Simulated impedance responses are used to validate the method, which is further confirmed using measurement results. The effects of correctly choosing a threshold in the fitting of a circuit impedance response to a set of measurements is presented by analyzing the convergence properties and the uncertainties of the estimated component values.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 124, August 2018, Pages 479-485
نویسندگان
, ,